宜特检测Keithley 参数分析仪

源于:www.istgroup.com    发布时间:2017-12-08

电性失效分析,上海Keithley参数分析,宜特检测

Keithley 参数分析仪

操作简易量测快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半导体特性系统提供实验室级的DC组件及导体组件特性量测、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、实时曲线绘图(IV-CURVE) 、高精确性及Sub-fA 高分辨率的量测分析。KEITHLEY 4200 将大部分的功能都整合在一个系统里,包含了PC,Windows NT Operation System,Hard disk超大的数据储存空间。KEITHLEY 4200 的随点即用的Windows接口加快及简化了读取资料步骤,所以使用者可以很快分析结果,内建的强大测试工具可以让测试方法标准化以确保相同的测试结果。


应用:

  • DC组件及导体组件特性量测

  • 电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)

  •  辅助后续电性测试(Force V measure I / Force I measure V)

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机台限制:
具多4 Channels、特高电压100 V、特大限流100 mA,功率为2 W。

  • 简易:随点即用的Windows操作环境.操作简单.存盘方便(可直接储存图文件及data数据文件)。

  • 高解析:有特殊的讯号放大器可使SMU分辨率达至0.1fA。

  • 快速:使用PC操作系统提供快速的测试设定,强大的数据分析及绘